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X荧光光谱仪对准样品激发时最佳距离
发布时间：2019-04-23 12:34:12 点击：7731
X荧光光谱仪的放射源和探测器在相对位置不变的情况下，样品位置的改变将会给测量结果带来明显的影响。
X荧光光谱仪对准样品激发时最佳距离
在实际工作中，X荧光光谱仪探测器测定样品的X射线荧光强度时，探测器与样品之间的距离不同，记录到的荧光强度也不一样，所以必须在固定的几何条件下进行测量工作。在哪种几何条件下能得到最大的X射线荧光强度，保证较高的测量精度，对于探测器窗口直径不同的仪器，最佳距离也不同，没有一个固定的数值。
当放射源至样品的距离很大时，放射源的初级射线在样品表面的强度很小，所激发的X射线荧光强度也很小。
当放射源至样品的距离很小时，样品表面的放射源初级射线很强，但产生的荧光强度主要集中在放射源附近，产生的特征X射线被放射源本身挡住，不能被探测器记录，荧光强度的记录数值也就减小。
对于探测器窗口直径不同的X荧光光谱仪，最佳距离也不同，在设计仪器时，会考虑到仪器的检测距离，根据指示操作即可。
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